PMDL-2.5D 라인 스캔 위상 편향 시스템
고속으로 사인파 위상 정보 프린지 패턴을 연속적으로 투사함으로써 결함 탐지에 적합한 다양한 이미지가 생성됩니다.
Function
고반사 표면에 더 적합거울 반사의 원리를 활용하여 표면 질감 특징과 무작위로 나타나는 고르지 못한 조명의 영향을 제거하고, 이전에는 이미지화할 수 없었던 작은 결함을 강조합니다.
다양한 이미지 출력확산 반사, 정반사, 광택 비율, 형상 다이어그램, 표준 다이어그램 등의 계산된 이미지가 포함되어 있어 제품 윤곽과 작은 결함에 대한 계층적 이미징이 가능합니다.
라인 스캔최대 220kHz의 고속 균일 스캐닝 이미징을 구현하여 원통형, 압연형 및 기타 연속형 고반사성 소재를 검사할 수 있습니다.
PMDL-2.5D 라인 스캔 위상 편향 시스템
고속으로 사인파 위상 정보 프린지 패턴을 연속적으로 투사함으로써 결함 탐지에 적합한 다양한 이미지가 생성됩니다.
Function
고반사 표면에 더 적합거울 반사의 원리를 활용하여 표면 질감 특징과 무작위로 나타나는 고르지 못한 조명의 영향을 제거하고, 이전에는 이미지화할 수 없었던 작은 결함을 강조합니다.
다양한 이미지 출력확산 반사, 정반사, 광택 비율, 형상 다이어그램, 표준 다이어그램 등의 계산된 이미지가 포함되어 있어 제품 윤곽과 작은 결함에 대한 계층적 이미징이 가능합니다.
라인 스캔최대 220kHz의 고속 균일 스캐닝 이미징을 구현하여 원통형, 압연형 및 기타 연속형 고반사성 소재를 검사할 수 있습니다.
Appilcation
SPECIFICATION
PMDL-2.5D Image system